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晶体生长原理与技术(第二版)书籍详细信息
- ISBN:9787030589989
- 作者:暂无作者
- 出版社:暂无出版社
- 出版时间:2024-03
- 页数:796
- 价格:246.40
- 纸张:胶版纸
- 装帧:精装
- 开本:128开
- 语言:未知
- 丛书:暂无丛书
- TAG:暂无
- 豆瓣评分:暂无豆瓣评分
内容简介:
本书分4篇探讨晶体生长的原理与技术。第一篇为晶体生长的基本原理,分5章对晶体生长的热力学原理、动力学原理、界面过程、生长形态及晶体生长初期的形核相关原理进行论述。第二篇为晶体生长的技术基础,分3章进行晶体生长过程的涉及传输行为(传质、传热、对流)、化学基础问题(材料的提纯与合成问题)以及物理基础(电、磁、力的作用原理)的综合分析。第三篇为晶体生长技术,分4章分别对以 Bridgman法为主的熔体法晶体生长、以 Czochralski方法为主的熔体法晶体生长、溶液法晶体生长以及气相晶体生长技术与最新发展进行介绍。第四篇分2章分别对晶体生长过程中缺陷的形成与控制和晶体的结构与性能表征方法进行论述。
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其它内容:
书籍介绍
本书将在绪论中,对人工晶体生长的基本概念、研究范畴、研究历史和晶体生长方法分类等基本概念进行简要介绍,然后分4篇进行论述。
靠前篇为晶体生长的基本原理,将分5章,对晶体生长过程的热力学和动力学原理,结晶界面形貌与结构,形核与生长的动力学过程进行描述。
二篇为晶体生长的技术基础,将分3章,对晶体生长过程的涉及的传热、传质及流体流动原理,晶体生长过程的化学原理和晶体生长过程控制涉及的物理原理进行论述。
三篇为晶体生长技术,将分4章对熔体生长(2章)、溶液生长、气相生长的主要方法及其控制原理进行论述。
四篇,晶体的性能表征与缺陷,将分2章,分别对晶体的结构、性能的主要表征方法,晶体的结构缺陷形成与控制原理进行论述。
书籍真实打分
故事情节:9分
人物塑造:7分
主题深度:9分
文字风格:9分
语言运用:6分
文笔流畅:8分
思想传递:9分
知识深度:9分
知识广度:5分
实用性:7分
章节划分:6分
结构布局:3分
新颖与独特:4分
情感共鸣:5分
引人入胜:5分
现实相关:6分
沉浸感:4分
事实准确性:3分
文化贡献:6分
网站评分
书籍多样性:3分
书籍信息完全性:5分
网站更新速度:6分
使用便利性:7分
书籍清晰度:5分
书籍格式兼容性:4分
是否包含广告:7分
加载速度:3分
安全性:4分
稳定性:6分
搜索功能:3分
下载便捷性:7分
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